TY  - JOUR
A1  - Ritz, Thomas
T1  - Mobile CRM-Systeme : Customer Relationship Management zur Unterstützung des Vertriebsaußendienstes
JF  - Zeitschrift für wirtschaftlichen Fabrikbetrieb : ZWF ; Organ des VDI-Kompetenzfeldes Informationstechnik (VDI-KfIT)
Y1  - 2003
SN  - 0932-0482 (Print)
SN  - 0947-0085 (Online)
VL  - 99
IS  - 12
SP  - 699
EP  - 702
ER  - 
TY  - THES
A1  - Ritz, Thomas
T1  - Die werkzeuggestützte Produktion von personalisierten Informationsdienstleistungen. - (IPA-IAO Forschung und Praxis ; 389)
Y1  - 2004
SN  - 3-936947-23-6
N1  - Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2003
PB  - Jost-Jetter
CY  - Heimsheim
ER  - 
TY  - CHAP
A1  - Ritz, Thomas
T1  - Production and distribution of personalized information services employing mass customization
T2  - 2nd Interdisciplinary World Congress on Mass Customization and Personalization : MCPC'03, October 6 - 8, 2003, Technische Universität München, Munic, Germany
Y1  - 2003
SP  - Part IV
PB  - Techn. Univ. (TUM)
CY  - München
ET  - CD-Ausg.
ER  - 
TY  - CHAP
A1  - Stender, Michael
A1  - Ritz, Thomas
T1  - Modeling of business-to-business mobile commerce processes
T2  - Electronic proceedings / ICPR 17, 17th International Conference on Production Research [Blacksburg, Virginia, USA, August 3 - 7, 2003]
Y1  - 2003
SN  - 0-9721257-3-6
CY  - Blacksburg, Va.
ET  - CD-ROM-Ausg.
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Fruth, B.
T1  - Dielectric Properties of Polyolefins Stressed by High Electrical Fields / Fruth, B. ; Krause, G.
JF  - Plenary lectures and contributions presented at the International Symposium on Polymer Materials : held in San Sebastian (Donostia), Spain, 31 August - 4 September, 1987 / symposium ed. G. M. Guzmán ; A. Santamaria
Y1  - 1988
SN  - 3-85739-220-7
N1  - International Symposium on Polymer Materials <1987, San Sebastián, Golfo de Vizcaya>
PB  - Huethig & Wepf
CY  - Basel
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Schuppe, W.D.
A1  - Saure, M.
A1  - Andress, H.
T1  - Sensitive Analytical and Physical Methods for Diagnosis of Variations in Polyolefin Plaques and Cable Insulations / W.D. Schuppe, M. Saure, H. Andress, K. Möller, D. Meurer, G. Krause
JF  - Proceedings of the 32nd session : 28th August - 3rd September.
Y1  - 1988
N1  - International Conference on Large Electric Systems, CIGRÉ <32, Paris, 1988>
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Meurer, D.
A1  - Klee, D.
T1  - Space Charge Formation Related to the Morphology of Polymers
JF  - ISE 6 : 6th International symposium on electrets : Papers
Y1  - 1988
N1  - International Symposium on Electrets <6, 1988, Oxford>
PB  - IEEE
CY  - Piscataway, NY
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Fruth, Bernhard
A1  - Krause, Gregor
A1  - Meurer, D.
T1  - Einfluß der Verarbeitungsverfahren und verarbeitungsbedingter Werkstoffzusätze auf die dielektrischen Eigenschaften von Kunststoffen / B. Fruth, G. Krause, D. Meurer, K. Möller
Y1  - 1988
N1  - Ergebnisbericht 1986-87-88 Sonderforschungsbereich 106 RWTH Aachen: "Korrelation von Fertigung und Bauteileeigenschaften bei Kunststoffen"
CY  - Aachen
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Möller, K.
A1  - Meurer, D.
T1  - Dielectric phenomena in semicrystalline polymers
JF  - IEEE Transaction on Electrical Insulation. Vol. 24 (1989), H. No. 2
Y1  - 1989
N1  - Digital Object Identifier 10.1109/14.90276
SP  - 215
EP  - 222
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Meurer, D.
A1  - Klee, D.
T1  - Space charge formation related to the morphology of polymers
JF  - IEEE Transaction on Electrical Insulation. Vol. 24 (1989), H. No. 3
Y1  - 1989
N1  - Digital Object Identifier 10.1109/14.30883
SP  - 215
EP  - 222
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - Robust Algorithms for Txx Network Analyzer Self-Calibration Procedures
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 43 (1994), H. 1
Y1  - 1994
SN  - 0018-9456
SP  - 18
EP  - 23
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - Error corrected impedance measurements with a network analyzer
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 44 (1995), H. 2
Y1  - 1995
SN  - 0018-9456
SP  - 295
EP  - 299
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - Results of network analyzer measurements with leakage errors-corrected with direct calibration techniques
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5
Y1  - 1997
SN  - 0018-9456
SP  - 1120
EP  - 1127
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - 15-term self-calibration methods for the error-correction of on-wafer measurements
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5
Y1  - 1997
SN  - 0018-9456
SP  - 1105
EP  - 1110
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Line Network Network (LNN): an alternative in-fixture calibration procedure
JF  - IEEE transactions on microwave theory and techniques : MTT ; a publication of the IEEE Microwave Theory and Techniques Society. 45 (1997), H. 3
Y1  - 1997
SN  - 0018-9480
SP  - 408
EP  - 413
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Calibration procedures with series impedances and unknown lines simplify on-wafer measurements
JF  - IEEE transactions on microwave theory and techniques : MTT ; a publication of the IEEE Microwave Theory and Techniques Society. 47 (1999), H. 1
Y1  - 1999
SN  - 0018-9480
SP  - 1
EP  - 5
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Calibration of network analyser measurements with leakage errors
JF  - Electronics letters. 30 (1994), H. 1
Y1  - 1994
SN  - 0013-5194
SP  - 52
EP  - 53
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Leerläufe als postulierte Kalibrierstandards fuer Messungen auf planaren Schaltungen
JF  - tm - Technisches Messen. 64. 1997 (1997), H. 6
Y1  - 1997
SP  - 230
EP  - 237
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Stolle, Reinhard
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Auswertemethoden zur Praezisions-Entfernungsmessung mit FMCW-Systemen und deren Anwendung im Mikrowellenbereich
JF  - tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2
Y1  - 1995
SP  - 66
EP  - 73
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Robuster Algorithmus zur Streuparameterbestimmung für systemfehlerkorrigierte Netzwerkanalysatoren
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 35. 1991 (1991)
Y1  - 1991
SP  - 555
EP  - 556
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Error Corrected Impedance Measurements with a Network Analyzer
Y1  - 1994
N1  - 1994 Conference on Precision Electromagnetic Measurements digest : 27 June - 1 July 1994, Boulder, Colorado, USA / Organized by National Institute of Standards and Technology. Ed. by Edie DeWeese
SP  - 125
EP  - 126
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - A Generalization of the Txx Network Analyzer Self-Calibration Procedure
JF  - Conference proceedings : monday 24th to thursday 27th august 1992, Helsinki University of Technology, Espoo, Finland ; [the international conference and exhibition designed for the Microwave Community]. Vol. 2
Y1  - 1992
SN  - 0-946821-77-1
N1  - European Microwave Conference <22, 1992, Espoo> ; Teknillinen Korkeakoulu <Helsinki>
SP  - 907
EP  - 912
PB  - Microwave Exhibitions and Publishers
CY  - Tunbridge Wells
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - The In-Fixture Calibration Procedure Line-Network-Network-LNN
JF  - Conference proceedings : monday 6th to thursday 9th september 1993, Palacio de Congresos, Madrid, Spain ; [the international conference and exhibition designed for the Microwave Community]
Y1  - 1992
SN  - 0-946821-23-2
N1  - European Microwave Conference <23, 1993, Madrid>
SP  - 500
EP  - 505
PB  - Reed Exhibition Companies
CY  - Tunbridge Wells
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Scattering Parameter Measurements of Microstrip Devices using the Double-LNN Calibration Technique
JF  - Conference proceedings : [Palais des Festivals et des Congrès Cannes, France, 5 - 8 September 1994]
Y1  - 1994
SN  - 0-9518032-5-5
N1  - European Microwave Conference <24, 1994, Cannes>
PB  - Nexus Business Communications
CY  - Swanley
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - The double-LNN Calibration technique for scattering parameter measurements of microstrip devices
JF  - Conference proceedings
Y1  - 1995
N1  - European Microwave Conference <25, 1995, Bologna>
SP  - 343
EP  - 347
PB  - NEXUS House
CY  - Kent
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - LZY: A Self-Calibration Approach in Competition to the LRM Method for On-Wafer Measurements
Y1  - 1995
N1  - 45th ARFTG Conference digest, Spring 1995 : [conference topic: Testing and design of RFIC'S], May 19, 1995, Orange County Convention Center, Orlando, Florida / Automatic RF Techniques Group. Publications chairman: Ed Godshalk;  ARFTG Conference digest ; 4
SP  - 129
EP  - 136
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Sure Methods of On-Wafer Scattering Parameter Measurements with Self-Calibration Procedures
Y1  - 1996
N1  - 46th ARFTG conference digest : November 30 - December 1. 1995, Safari Resort, Scottsdale, Arizona / Automatic RF Techniques Group. [Publ. chairman: Ed. Godshalk]
SP  - 136
EP  - 145
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Microwave On-Wafer Measurements with Activ Needle Probe Tips
Y1  - 1997
N1  - 47th ARFTG Conference digest : June 20 - 21, 1996, Moscone Convention Center, San Francisco, California / Automatic RF Techniques Group. [Publication chair: Ed Godshalk
SP  - 208
EP  - 214
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Results of Network Analyzer Measurements with Leakage Errors Corrected with the TMS-15-Term Procedure
Y1  - 1994
N1  - 1994 IEEE MTT-S International Microwave Symposium digest : May 23 - 27, 1994, San Diego Convention Center, San Diego, California / H. J. Kuno, ed.
SP  - 1361
EP  - 1364
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Baumann, F.-M.
A1  - Fauth, G.
A1  - Albert, M.
T1  - Results of Network Analyzer Measurements with Leakage Errors Corrected with the TMS-15-Term Procedure
JF  - On-Line Moisture Analysis of Raw Coal
Y1  - 1994
N1  - 1993 International Symposium on On-Line Analysis of Coal : Vienna ; [proceedings].
SP  - 1361
EP  - 1364
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - LNN (Line-Network-Network): Verfahren zur Kalibrierung von Netzwerkanalysatoren
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 36. 1992 (1992)
Y1  - 1992
SP  - 327
EP  - 335
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993)
Y1  - 1993
SP  - 195
EP  - 204
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994)
Y1  - 1994
SP  - 611
EP  - 622
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Graf, W.
T1  - Vergleich mehrerer Naeherungsverfahren zur Berechnung des Wellenwiderstandes von Mikrostreifenleitungen mit experimentellen Ergebnissen
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 39. 1996 (1996)
Y1  - 1996
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Graf, W.
T1  - Direkte Messung der Dispersion des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 40. 1997 (1997)
Y1  - 1997
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Graf, W.
T1  - Direkte on-wafer-Messung des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 41. 1998 (1998)
Y1  - 1998
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Stolle, Reinhard
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Neuartige Algorithmen fuer die Mikrowellen-Entfernungsmessung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1995 (1995)
Y1  - 1995
SP  - 817
EP  - 834
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten
JF  - Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse für Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]
Y1  - 1995
SN  - 3-924651-45-0
N1  - MIOP ; (8, 1995, Sindelfingen)
SP  - 23
EP  - 29
CY  - Hagenburg
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - LNN( Line-Network-Network): The In-Fixture Calibration Procedure
Y1  - 1993
N1  - XXIVth General Assembly of the International URSI, Kyoto
SP  - 149
EP  - 149
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - A Fast and Robust Procedure for the Determination of the Scattering Parameters for Network Analyzer Calibration
Y1  - 1992
N1  - Precision electromagnetic measurements : conference Paris, 9-12 June 1992 = Conférence sur les Mesures Electromagnétiques de Précision.
SP  - 373
EP  - 374
CY  - Paris
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Hagemann, Hans-Jürgen
A1  - Backhaus, U.
A1  - Goessner, S.
T1  - Collaborative eLearning Concepts for University Level Online Laboratory Courses in Engineering. U. Backhaus, S. Goessner, H. J. Hagemann
JF  - Proceedings Online Educa Berlin: 8th International Conference on Technology Supported Learning & Training. 2002
Y1  - 2002
N1  - Online Educa <2002, Berlin>
SP  - 62
EP  - 66
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Fruth, Bernhard
T1  - Dielectric Properties of Polyolefins Stressed by High Electrical Fields. Fruth, B. ; Krause, G.
Y1  - 1987
N1  - Fifth International Symposium on High Voltage Engineering : Proceedings; Braunschweig, Stadthalle, August, 24-28, 1987 / International Symposium on High Voltage Engineering <5, 1987, Braunschweig>
ER  - 
TY  - BOOK
A1  - Krause, Gregor
T1  - Leitungsmechanismen und Raumladungsphänomene in Polyolefinen bei Hochfeldbeanspruchung
Y1  - 1991
SN  - 3-925038-97-3
N1  - Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1991
PB  - Verl. d. Augustinus-Buchh.
CY  - Aachen
ER  - 
TY  - BOOK
A1  - Siepmann, Thomas
T1  - Reibmomente in Zylinderrollenlagern für Planetenräder
Y1  - 1987
SN  - 3-89194-068-8
N1  - Schriftenreihe / Ruhr-Universität Bochum, Fakultät für Maschinenbau, Institut für Konstruktionstechnik ; 87,4; Zugl.: Bochum, Univ., Diss., 1987
CY  - Bochum
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Schuppe, W.D.
A1  - Saure, M.
A1  - Andress, H.
T1  - Sensitive Analytische und Physikalische Verfahren zum Nachweis von Veränderungen in Platten und Kabelisolierungen aus Polyolefinen / W.D. Schuppe, M. Saure, H. Andress, K. Möller, D. Meurer, G. Krause
JF  - AEG Technische Mitteilungen (1989)
Y1  - 1989
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Göttlich, S.
A1  - Möller, K.
A1  - Meurer, D.
T1  - Space Charge Phenomena in Partially Crystalline Polymers: On-Line Measurement of Charge Carrier Motion under High AC-Field Strength / G. Krause, S. Göttlich, K. Möller, D. Meurer
JF  - Proceedings of the 3rd International Conference on Conduction and Breakdown in Solid Dielectrics : Trondheim, Norway ... 1989
Y1  - 1989
N1  - International Conference on Conduction and Breakdown in Solid Dielectrics <3, 1989, Trondheim>
PB  - IEEE
CY  - Piscataway, N.J.
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Neubert, R.
A1  - Pietsch, R.
T1  - Investigations of Electrical Aging in Polymers under High AC-Field Strength
JF  - 1990 annual report : October 28 - October 31, 1990 / sponsored by the IEEE Dielectrics and Electrical Insulation Society
Y1  - 1990
N1  - Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena ; (59, 1990, Pocono Manor, Pa.)
PB  - IEEE Service Center
CY  - Piscataway, N.J
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
T1  - High Field Phenomena of Polymeric Insulation Investigated at PE Needle-Plane Specimen
JF  - Seventh International Symposium on High Voltage Engineering : Dresden, August 26 - 30, 1991 / Technische Universität Dresden
Y1  - 1991
N1  - International Symposium on High Voltage Engineering ; (7, 1991, Dresden); International Symposium on High Voltage Engineering (ISH) ; (7 : ; 1991.08.26-30 : ; Dresden)
PB  - TU Dresden
CY  - Dresden
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Neubert, R.
A1  - Pietsch, R.
T1  - Elektrische Eigenschaften von Kunststoffen
Y1  - 1991
N1  - Abschlußbericht 1991 Sonderforschungsbereich 106. RWTH Aachen. "Korrelation von Fertigung und Bauteileigenschaften bei Kunststoffen"
PB  - RWTH
CY  - Aachen
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Göttlich, S.
A1  - Möller, K.
A1  - Neubert, R.
T1  - Dielektrisches Alterungsmodell hochpolymerer Isolierstoffe / S. Göttlich, G. Krause, K. Möller, R. Neubert, R. Pietsch
JF  - Isoliersysteme der elektrischen Energietechnik. Lebensdauer, Diagnostik und Entwicklungstendenzen ; Vorträge der ETG-Fachtagung am 26. und 27. Mai 1992 in Würzburg
Y1  - 1992
SN  - 3-8007-1828-6
N1  - ETG-Fachbericht ; 40
SP  - 49
EP  - 54
PB  - vde-Verl.
CY  - Berlin [u.a.]
ER  -