TY  - JOUR
A1  - Schwarzer, Klemens
A1  - Ehrhardt, J.
A1  - Bayer, A.
A1  - Kroeger, W.
T1  - Unfallfolgen- und Risikoabschätzung für die probabilistische HTR-1160-Sicherheitsstudie / J. Ehrhardt ; A. Bayer ; W. Kroeger ; K. Schwarzer
JF  - Atomwirtschaft - Atomtechnik. 27 (1982), H. 10
Y1  - 1982
SN  - 0004-721x
N1  - 2. ISSN: 0365-8414
SP  - 527
EP  - 529
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Hodel, U.
A1  - Orzati, A.
A1  - Marso, M.
A1  - Homann, O.
A1  - Fox, A.
A1  - Hart, A. v. d.
A1  - Förster, Arnold
A1  - Kordos, P.
A1  - Lüth, H.
T1  - A novel InAlAs/InGaAs layer structure for monolithically integrated photoreceiver
JF  - Conference Proceedings: 2000 International Conference on Indium Phosphide and related materials
Y1  - 2000
SN  - 0-7803-6320-5
N1  - International Conference on Indium Phosphide and Related Materials <12, 2000, Williamsburg, Va.>
SP  - 466
EP  - 469
PB  - IEEE Service Center
CY  - Piscataway, NJ
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Hoskens, R.C.P.
A1  - Roer, T.G. van de
A1  - Tolstikhin, V.I.
A1  - Förster, Arnold
T1  - Hot electron injection laser: vertically integrated transistor-laser structure for high-speed, low-chirp direct modulation
JF  - LEOS 2000 : 2000 IEEE annual meeting conference proceedings; 13th annual meeting; IEEE Lasers and Electro-Optics Society 2000 annual meeting; 13-16 November 2000, The Westin Rio Mar Beach, Rio Grande, Puerto Rico. Vol. 2
Y1  - 2000
SN  - 0-7803-5947-X
N1  - 2000 IEEE LEOS annual meeting
SP  - 444
EP  - 445
PB  - IEEE Service Center
CY  - Piscataway, NJ
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Hoskens, R. C. P.
A1  - Tolstikhin, V.I.
A1  - Förster, Arnold
A1  - Roer, T.G. van de
T1  - Vertically integrated transistor-laser structure, take 2
JF  - WOCSDICE  2000, 24th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe : May 29 - June 02, 2000, Aegean Sea, Greece.
Y1  - 2000
SN  - 0970311109
N1  - WOCSDICE ; (24, 2000) Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe ; (24 : ; 2000.05.29-06.02)
PB  - Univ. of Michigan
CY  - Ann Arbor, Mich.
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Darmo, J.
A1  - Schäffer, F.
A1  - Förster, Arnold
A1  - Kordos, P.
T1  - Beryllium doped low-temperature-grown MBE GaAs: material for photomixing in the THz frequency range
JF  - ASDAM 2000 : conference proceedings / edited by Jozef Osvald ... [et al.]
Y1  - 2000
SN  - 0780359399
N1  - International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems ; (3rd : ; 2000 : ; Smolenice, Slovakia)
SP  - 147
EP  - 150
PB  - IEEE
CY  - Piscataway, NJ
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Griebel, M.
A1  - Indlekofer, K.M.
A1  - Lüth, H.
T1  - Single electron transport in resonant tunnelling diodes laterally confined by ion implantation. Griebel, M.; Indlekofer, K.M.; Förster, A.; Lüth, H.
JF  - Journal of  Physics D: Applied  Physics. 32 (1999), H. 14
Y1  - 1999
SN  - 1361-6463
SP  - 1729
EP  - 1733
ER  - 
TY  - BOOK
A1  - Schwarzer, Klemens
T1  - Gutachten zu möglichen Strahlenexpositionen durch äußere radioaktive Kontaminationen an Transportbehältern oder Transportwaggons beim Transport von abgebrannten Brennelementen nach Frankreich / Auftraggeber: Staatsanwaltschaft Hanau
Y1  - 1999
PB  - IBEU, Ing.-Büro für Energie- u. Umweltechnik
CY  - Jülich
ER  - 
TY  - BOOK
A1  - Schwarzer, Klemens
T1  - Radionuklidtransport im Boden. - Als Ms. gedr.
Y1  - 1979
N1  - (Berichte der Kernforschungsanlage Jülich ; 1572). - Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Fak. für Maschinenwesen, Diss., 1979
PB  - Zentralbibliothek der Kernforschungsanlage Jülich
CY  - Jülich
ER  - 
TY  - BOOK
A1  - Schwarzer, Klemens
A1  - Thelen, Josef
T1  - Ermittlung der Konsequenzen bei Leckage eines Tanks mit hochkonzentrierten Radionuklidlösungen und Eindringen der radioaktiven Lösung in den Boden. - (Spezielle Berichte der Kernforschungsanlage Jülich ; 134)
Y1  - 1981
PB  - Zentralbibliothek der Kernforschungsanlage
CY  - Jülich
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Schmidt, R.
A1  - Tonnesmann, A.
A1  - Förster, Arnold
A1  - Grimm, M.
A1  - Kordos, P.
A1  - Lüth, H.
T1  - Metamorphic InAlAs/InGaAs HEMT's on GaAs substrates using an InP buffer layer
JF  - 8th IEEE International Symposium on High Performance Electron Devices for Microwave and Optoelectronic Applications : EDMO 2000 ; [13 - 14 November 2000, University of Glasgow] / organised by Department of Electronics and Electrical Engineering, University of Glasgow, Glasgow Scotland. MTT/ED/AP/LEO Societies Joint Chapter, United Kingdom and Republic of Ireland Section. With technical co-sponsorship from IEEE Electron Device Society
Y1  - 2000
SN  - 0-7803-6550-X
N1  - EDMO <8, 2000, Glasgow> ; University <Glasgow> / Department of Electronics and Electrical Engineering ; IEEE catalog number 00TH8534
SP  - 95
EP  - 98
PB  - IEEE Operations Center
CY  - Piscataway, NJ
ER  -