TY  - JOUR
A1  - Wissenbach, U.
A1  - Six, S.
A1  - Bongaerts, Johannes
A1  - Ternes, D.
A1  - Steinwachs, S.
A1  - Unden, G.
T1  - A third periplasmic transport system for l-arginine in Escherichia coli: molecular characterization of the artPIQMJ genes, arginine binding and transport
JF  - Molecular microbiology
Y1  - 1995
SN  - 1365-2958 (E-Journal); 0950-382x (Print)
VL  - Vol. 17
IS  - Iss. 4
SP  - 675
EP  - 686
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - The double-LNN Calibration technique for scattering parameter measurements of microstrip devices
JF  - Conference proceedings
Y1  - 1995
N1  - European Microwave Conference <25, 1995, Bologna>
SP  - 343
EP  - 347
PB  - NEXUS House
CY  - Kent
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Stolle, Reinhard
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Novel Algorithms for FMCW Range Finding with Microwaves. Stolle, R.; Heuermann, H.; Schiek, B.
Y1  - 1995
N1  - Conference proceedings / IEEE NTC '95, the Microwave Systems Conference;  NTC <1995, Orlando, Fla.>
SP  - 129
EP  - 132
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Dahmann, Peter
T1  - Offen für neue Modelle. GL-Hydraulik setzt neues Simulationssystem ein
JF  - Fluid Heft Sonderpublikation Fluid-Technik. 29 (1995)
Y1  - 1995
SN  - 0015-461X
SP  - 8
EP  - 10
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Stolle, Reinhard
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Neuartige Algorithmen fuer die Mikrowellen-Entfernungsmessung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1995 (1995)
Y1  - 1995
SP  - 817
EP  - 834
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten
JF  - Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse für Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]
Y1  - 1995
SN  - 3-924651-45-0
N1  - MIOP ; (8, 1995, Sindelfingen)
SP  - 23
EP  - 29
CY  - Hagenburg
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - LZY: A Self-Calibration Approach in Competition to the LRM Method for On-Wafer Measurements
Y1  - 1995
N1  - 45th ARFTG Conference digest, Spring 1995 : [conference topic: Testing and design of RFIC'S], May 19, 1995, Orange County Convention Center, Orlando, Florida / Automatic RF Techniques Group. Publications chairman: Ed Godshalk;  ARFTG Conference digest ; 4
SP  - 129
EP  - 136
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Stolle, Reinhard
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Auswertemethoden zur Praezisions-Entfernungsmessung mit FMCW-Systemen und deren Anwendung im Mikrowellenbereich
JF  - tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2
Y1  - 1995
SP  - 66
EP  - 73
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Bongaerts, Johannes
A1  - Zoschke, Sascha
A1  - Weidner, Uwe
A1  - Linden, Gottfried
T1  - Transcriptional regulation of the proton translocating NADH
JF  - Molecular microbiology
Y1  - 1995
SN  - 1365-2958 (E-Journal); 0950-382x (Print)
VL  - Vol. 16
IS  - Iss. 3
SP  - 521
EP  - 534
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Unden, G.
A1  - Becker, S.
A1  - Bongaerts, Johannes
A1  - Holighaus, G.
A1  - Schirawski, J.
A1  - Six, S.
T1  - O2-sensing and O2-dependent gene regulation in facultatively anaerobic bacteria
JF  - Archives of microbiology
Y1  - 1995
SN  - 1432-072X (E-Journal); 0003-9276 (Print); 0302-8933 (Print)
VL  - Vol. 164
IS  - Iss. 2
SP  - 81
EP  - 90
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Fabo, Sabine
T1  - Metamorphose und Morphing
JF  - Diagonal : Zeitschrift der Universität Siegen
Y1  - 1995
SN  - 0938-7161
VL  - 11 (1995)
IS  - Heft "Metamorphosen"
SP  - 201
EP  - 213
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Staat, Manfred
T1  - Reliability of an HTR-module primary circuit pressure boundary Influences, sensitivity, and comparison with a PWR
JF  - Nuclear Engineering and Design. 158 (1995), H. 2-3
Y1  - 1995
SN  - 0029-5493
SP  - 333
EP  - 340
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - Error corrected impedance measurements with a network analyzer
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 44 (1995), H. 2
Y1  - 1995
SN  - 0018-9456
SP  - 295
EP  - 299
ER  -