Modellrechnungen und Streufeldmessung: Eine Möglichkeit zur zerstörungsfreien Kristallstruktur-Analyse von kornorientiertem Elektroblech aus Silizium-Eisen
Author: | Horst Schäfer |
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ISBN: | 0932-383X |
Parent Title (German): | Elektrotechnik und Informationstechnik : e & i. 106 (1989), H. 2 |
Document Type: | Article |
Language: | German |
Year of Completion: | 1989 |
Date of the Publication (Server): | 2012/12/18 |
First Page: | 67 |
Last Page: | 71 |
Institutes: | FH Aachen / Fachbereich Medizintechnik und Technomathematik |