Modellrechnungen und Streufeldmessung: Eine Möglichkeit zur zerstörungsfreien Kristallstruktur-Analyse von kornorientiertem Elektroblech aus Silizium-Eisen
MetadatenVerfasserangaben: | Horst Schäfer |
---|
ISBN: | 0932-383X |
---|
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Elektrotechnik und Informationstechnik : e & i. 106 (1989), H. 2 |
---|
Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
---|
Sprache: | Deutsch |
---|
Erscheinungsjahr: | 1989 |
---|
Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
---|
Erste Seite: | 67 |
---|
Letzte Seite: | 71 |
---|
Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Medizintechnik und Technomathematik |
---|