Visualization of Defects on a Cultured Cell Layer by Utilizing Chemical Imaging Sensor
- The chemical imaging sensor is a field-effect sensor which is able to visualize both the distribution of ions (in LAPS mode) and the distribution of impedance (in SPIM mode) inthe sample. In this study, a novel wound-healing assay is proposed, in which the chemical imaging sensor operated in SPIM mode is applied to monitor the defect of a cell layer brought into proximity of the sensing surface.A reduced impedance inside the defect, which was artificially formed ina cell layer, was successfully visualized in a photocurrent image.
Verfasserangaben: | Ko-ichiro Miyamoto, Yu Bing, Torsten WagnerORCiD, Tatsuo Yoshinobu, Michael Josef SchöningORCiD |
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DOI: | https://doi.org/10.1016/j.proeng.2015.08.806 |
ISSN: | 1877-7058 |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Procedia Engineering |
Verlag: | Elsevier |
Verlagsort: | Amsterdam |
Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Erscheinungsjahr: | 2015 |
Datum der Publikation (Server): | 01.10.2015 |
Jahrgang: | 120 |
Erste Seite: | 936 |
Letzte Seite: | 939 |
Bemerkung: | Part of special issue "Eurosensors 2015" |
Link: | https://doi.org/10.1016/j.proeng.2015.08.806 |
Zugriffsart: | weltweit |
Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Medizintechnik und Technomathematik |
FH Aachen / INB - Institut für Nano- und Biotechnologien | |
open_access (DINI-Set): | open_access |
collections: | Verlag / Elsevier |
Lizenz (Deutsch): | Creative Commons - Namensnennung-Nicht kommerziell-Keine Bearbeitung |