Direct hysteresis measurements of single nanosized ferroelectric capacitors contacted with an atomic force microscope / Tiedke, S. ; Schmitz, T. ; Prume, K. ; Roelofs, A. ; Schneller, T. ; Kall, U. ; Waser, R. ; Ganpule, C. S. ; Nagarajan, V. ; Stanishevs
Verfasserangaben: | Klaus Prume, S. Tiedke, T. Schmitz, A. Roelofs |
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ISBN: | 0003-6951 |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Applied Physics Letters. 79 (2001), H. 22 |
Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Erscheinungsjahr: | 2001 |
Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
Erste Seite: | 3678 |
Letzte Seite: | 3680 |
Link: | http://dx.doi.org/10.1063/1.1421638 |
Zugriffsart: | campus |
Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |