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Modellrechnungen und Streufeldmessung: Eine Möglichkeit zur zerstörungsfreien Kristallstruktur-Analyse von kornorientiertem Elektroblech aus Silizium-Eisen

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Metadaten
Author:Horst Schäfer
ISBN:0932-383X
Parent Title (German):Elektrotechnik und Informationstechnik : e & i. 106 (1989), H. 2
Document Type:Article
Language:German
Year of Completion:1989
Date of the Publication (Server):2012/12/18
First Page:67
Last Page:71
Institutes:FH Aachen / Fachbereich Medizintechnik und Technomathematik