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Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren

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Metadaten
Author:Holger HeuermannORCiD, Burkhard Schiek
Parent Title (German):Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994)
Document Type:Article
Language:German
Year of Completion:1994
Date of the Publication (Server):2012/12/18
First Page:611
Last Page:622
Institutes:FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik