Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten

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Metadaten
Author:Holger HeuermannORCiD
ISBN:3-924651-45-0
Parent Title (German):Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse für Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]
Place of publication:Hagenburg
Document Type:Article
Language:German
Year of Completion:1995
Date of the Publication (Server):2012/12/18
Length:665 S : Ill., graph. Darst
First Page:23
Last Page:29
Note:
MIOP ; (8, 1995, Sindelfingen)
Institutes:FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik