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Autor*in
Prume, Klaus
(1)
Reichenberg, Bernd
(1)
Roelofs, Andreas
(1)
Schmitz, Thorsten
(1)
Erscheinungsjahr
2002
(1)
Institut
Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
(1)
Volltext vorhanden
nein
(1)
Sprache
Englisch
(1)
Dokumenttyp
Wissenschaftlicher Artikel
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Zugriffsart
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Gehört zur Bibliographie
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Compensation of the Parasitic Capacitance of a Scanning Force Microscope Cantilever Used for Measurements on Ferroelectric Capacitors of Submicron Size by Means of Finite Element Simulations / Prume, Klaus ; Roelofs, Andreas ; Schmitz, Thorsten ; Reichenb
(2002)
Prume, Klaus
;
Roelofs, Andreas
;
Schmitz, Thorsten
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Reichenberg, Bernd
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bis
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