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Microwave On-Wafer Measurements with Activ Needle Probe Tips (1997)

Holger Heuermann

Leerläufe als postulierte Kalibrierstandards fuer Messungen auf planaren Schaltungen (1997)

Holger Heuermann

Praezise Streuparametermessungen sind der Schluessel zur Modellierung elektrischer Schaltungen (1997)

Holger Heuermann

Direkte Messung der Dispersion des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung (1997)

Holger Heuermann ; W. Graf

Results of network analyzer measurements with leakage errors-corrected with direct calibration techniques (1997)

Holger Heuermann ; B. Schiek

15-term self-calibration methods for the error-correction of on-wafer measurements (1997)

Holger Heuermann ; B. Schiek

Line Network Network (LNN): an alternative in-fixture calibration procedure (1997)

Holger Heuermann ; Burkhard Schiek

Open Access