Deutsch
Login
Open Access
Home
Search
Browse
Administration
FAQ
Refine
Author
B. Krafft (2)
(remove)
Year of publication
2001
(1)
1998
(1)
Institute
Fachbereich Energietechnik
(2)
INB - Institut für Nano- und Biotechnologien
(1)
2
search hits
1
to
1
Export
BibTeX
CSV
RIS
1
10
20
50
100
DX Centers in Al0.3Ga0.7As/GaAs Analyzed by Point Contact Measurements. Hauke, M.; Jakumeit, J.; Krafft, B.; Nimtz, G.; Förster, A.; Lüth, H.
(1998)
Arnold Förster
;
M. Hauke
;
J. Jakumeit
;
B. Krafft
1
to
1