The double-LNN Calibration technique for scattering parameter measurements of microstrip devices
Verfasserangaben: | Holger HeuermannORCiD, Burkhard Schiek |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Conference proceedings |
Verlag: | NEXUS House |
Verlagsort: | Kent |
Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Erscheinungsjahr: | 1995 |
Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
Erste Seite: | 343 |
Letzte Seite: | 347 |
Bemerkung: | European Microwave Conference <25, 1995, Bologna> |
Link: | http://dx.doi.org/10.1109/EUMA.1995.336976 |
Zugriffsart: | campus |
Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |