The Levenberg–Marquardt method applied to a parameter estimation problem arising from electrical resistivity tomography
Verfasserangaben: | Andreas KleefeldORCiD, Martin Reißel |
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ISBN: | 0096-3003 |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Applied Mathematics and Computation |
Verlag: | Elsevier |
Verlagsort: | Amsterdam |
Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Erscheinungsjahr: | 2011 |
Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
Jahrgang: | 217 |
Ausgabe / Heft: | 9 |
Erste Seite: | 4490 |
Letzte Seite: | 4501 |
Link: | http://dx.doi.org/10.1016/j.amc.2010.10.052 |
Zugriffsart: | campus |
Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Medizintechnik und Technomathematik |
collections: | Verlag / Elsevier |