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Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten

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Verfasserangaben:Holger HeuermannORCiD
ISBN:3-924651-45-0
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse für Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]
Verlagsort:Hagenburg
Dokumentart:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Deutsch
Erscheinungsjahr:1995
Datum der Publikation (Server):18.12.2012
Umfang:665 S : Ill., graph. Darst
Erste Seite:23
Letzte Seite:29
Bemerkung:
MIOP ; (8, 1995, Sindelfingen)
Fachbereiche und Einrichtungen:FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik