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The double-LNN Calibration technique for scattering parameter measurements of microstrip devices

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Verfasserangaben:Holger HeuermannORCiD, Burkhard Schiek
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Conference proceedings
Verlag:NEXUS House
Verlagsort:Kent
Dokumentart:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Erscheinungsjahr:1995
Datum der Publikation (Server):18.12.2012
Erste Seite:343
Letzte Seite:347
Bemerkung:
European Microwave Conference <25, 1995, Bologna>
Link:http://dx.doi.org/10.1109/EUMA.1995.336976
Zugriffsart:campus
Fachbereiche und Einrichtungen:FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik