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Investigations on porous silicon layers with regard to chemical microsensor applications

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Verfasserangaben:Michael Josef SchöningORCiD, M. Crott, F. Ronkel, M. Thust, J. W. Schultze, P. Kordos, H. Lüth
ISBN:0819421650
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Third International Conference on Intelligent Materials : Lyon, 3-4-5 June 1996, Center of Congress "L'Espace Tête d'Or" / [publ. by SPIE, the International Society for Optical Engineering]. General chair/ed. by: P. F. Gobin
Verlag:SPIE
Verlagsort:Bellingham, Wash.
Dokumentart:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Erscheinungsjahr:1996
Datum der Publikation (Server):18.12.2012
Umfang:XVIII, 1022 S.: Ill.
Erste Seite:275
Letzte Seite:280
Bemerkung:
International Conference on Intelligent Materials ; (3, 1996, Lyon)
Fachbereiche und Einrichtungen:FH Aachen / Fachbereich Medizintechnik und Technomathematik