Thickness dependence of the electronic structure of ultrathin, epitaxial Ni(111)/W(110) layers.
| Verfasserangaben: | Klaus-Peter Kämper, W. Schmitt, G. Güntherodt |
|---|---|
| ISBN: | 1095-3795 |
| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Physical Review B. 38 (1988), H. 14 |
| Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Erscheinungsjahr: | 1988 |
| Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
| Erste Seite: | 9451 |
| Letzte Seite: | 9456 |
| Link: | http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.38.9451 |
| Zugriffsart: | bezahl |
| Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Maschinenbau und Mechatronik |
