Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten
Author: | Holger HeuermannORCiD |
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ISBN: | 3-924651-45-0 |
Parent Title (German): | Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse für Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH] |
Place of publication: | Hagenburg |
Document Type: | Article |
Language: | German |
Year of Completion: | 1995 |
Length: | 665 S : Ill., graph. Darst |
First Page: | 23 |
Last Page: | 29 |
Note: | MIOP ; (8, 1995, Sindelfingen) |
Institutes: | FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |