Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen
MetadatenVerfasserangaben: | Holger HeuermannORCiD, Burkhard Schiek |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993) |
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Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
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Sprache: | Deutsch |
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Erscheinungsjahr: | 1993 |
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Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
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Erste Seite: | 195 |
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Letzte Seite: | 204 |
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Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
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