Metadaten| Verfasserangaben: | Arnold Förster, A. Rosenauer, T. Remmele |
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| ISBN: | 0-7503-0464-2 |
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| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Microscopy of semiconducting materials 1997 : proceedings of the Royal Microscopical Society Conference held at Oxford University, 7 - 10 April 1997 / ed. by A. G. Cullis ... - (Conference series / Institute of Physics ; 157) |
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| Verlag: | Institute of Physics |
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| Verlagsort: | Bristol [u.a.] |
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| Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
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| Sprache: | Englisch |
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| Erscheinungsjahr: | 1997 |
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| Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
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| Umfang: | XVI, 709 S. : Ill., graph. Darst. |
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| Erste Seite: | 39 |
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| Letzte Seite: | ff. |
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| Bemerkung: | MSM <10, 1997, Oxford> ; Conference on Microscopy of Semiconducting Materials <10, 1997, Oxford> ; Institut of Physics <London> |
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| Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Energietechnik |
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