LZY: A Self-Calibration Approach in Competition to the LRM Method for On-Wafer Measurements
| Verfasserangaben: | Holger HeuermannORCiD |
|---|---|
| Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Erscheinungsjahr: | 1995 |
| Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
| Erste Seite: | 129 |
| Letzte Seite: | 136 |
| Bemerkung: | 45th ARFTG Conference digest, Spring 1995 : [conference topic: Testing and design of RFIC'S], May 19, 1995, Orange County Convention Center, Orlando, Florida / Automatic RF Techniques Group. Publications chairman: Ed Godshalk; ARFTG Conference digest ; 4 |
| Link: | http://dx.doi.org/10.1109/ARFTG.1995.327116 |
| Zugriffsart: | campus |
| Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
