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Scattering Parameter Measurements of Microstrip Devices using the Double-LNN Calibration Technique

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Verfasserangaben:Holger HeuermannORCiD, Burkhard Schiek
ISBN:0-9518032-5-5
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Conference proceedings : [Palais des Festivals et des Congrès Cannes, France, 5 - 8 September 1994]
Verlag:Nexus Business Communications
Verlagsort:Swanley
Dokumentart:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Erscheinungsjahr:1994
Datum der Publikation (Server):18.12.2012
Bemerkung:
European Microwave Conference <24, 1994, Cannes>
Fachbereiche und Einrichtungen:FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik