BaTiO3 dotiert mit 3d-Ionen: Valenzen, Leerstellen und ihre Auswirkungen. Hagemann, H. J.; Ihrig, H.
Author: | Hans-Jürgen Hagemann, H. Ihrig |
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Parent Title (German): | Philips - Unsere Forschung in Deutschland / Hrsg.: Philips Forschungslaboratorium GmbH Aachen und Hamburg. 3 (1980) |
Document Type: | Article |
Language: | German |
Year of Completion: | 1980 |
First Page: | 249 |
Last Page: | 252 |
Institutes: | FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |