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Sure Methods of On-Wafer Scattering Parameter Measurements with Self-Calibration Procedures
| Verfasserangaben: | Holger HeuermannORCiD |
|---|---|
| Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Erscheinungsjahr: | 1996 |
| Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
| Erste Seite: | 136 |
| Letzte Seite: | 145 |
| Bemerkung: | 46th ARFTG conference digest : November 30 - December 1. 1995, Safari Resort, Scottsdale, Arizona / Automatic RF Techniques Group. [Publ. chairman: Ed. Godshalk] |
| Link: | http://dx.doi.org/10.1109/ARFTG.1996.327174 |
| Zugriffsart: | campus |
| Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
