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Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen

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Verfasserangaben:Holger HeuermannORCiD, Burkhard Schiek
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993)
Dokumentart:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Deutsch
Erscheinungsjahr:1993
Datum der Publikation (Server):18.12.2012
Erste Seite:195
Letzte Seite:204
Fachbereiche und Einrichtungen:FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik