15-term self-calibration methods for the error-correction of on-wafer measurements
| Verfasserangaben: | Holger HeuermannORCiD, B. Schiek |
|---|---|
| ISBN: | 0018-9456 |
| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5 |
| Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Erscheinungsjahr: | 1997 |
| Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
| Erste Seite: | 1105 |
| Letzte Seite: | 1110 |
| Link: | http://dx.doi.org/10.1109/19.676721 |
| Zugriffsart: | campus |
| Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
