Growth-induced interface roughness of GaAs/AlAs-layers studied by X-ray scattering under grazing angles / U. Klemradt ; M. Funke ; M. Fromm ... A Förster
| Verfasserangaben: | Arnold Förster, U. Klemradt, M. Funke, M Fromm |
|---|---|
| ISBN: | 0921-4526 |
| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Physica B: condensed matter. 221 (1996), H. 1-4 |
| Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Erscheinungsjahr: | 1996 |
| Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
| Erste Seite: | 27 |
| Letzte Seite: | 33 |
| Link: | http://dx.doi.org/0921-4526(95)00901-9 |
| Zugriffsart: | bezahl |
| Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Energietechnik |
