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The Levenberg–Marquardt method applied to a parameter estimation problem arising from electrical resistivity tomography

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Verfasserangaben:Andreas KleefeldORCiD, Martin Reißel
ISBN:0096-3003
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Applied Mathematics and Computation
Verlag:Elsevier
Verlagsort:Amsterdam
Dokumentart:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Erscheinungsjahr:2011
Datum der Publikation (Server):18.12.2012
Jahrgang:217
Ausgabe / Heft:9
Erste Seite:4490
Letzte Seite:4501
Link:http://dx.doi.org/10.1016/j.amc.2010.10.052
Zugriffsart:campus
Fachbereiche und Einrichtungen:FH Aachen / Fachbereich Medizintechnik und Technomathematik
collections:Verlag / Elsevier