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Autor
Holger Heuermann (1)
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Erscheinungsjahr
1996 (1)
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Sprache
Englisch (1)
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Institut
Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik (1)
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Sure Methods of On-Wafer Scattering Parameter Measurements with Self-Calibration Procedures
(1996)
Holger Heuermann
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