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Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten
(1995)
Holger Heuermann
Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren
(1994)
Holger Heuermann
;
Burkhard Schiek
Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen
(1993)
Holger Heuermann
;
Burkhard Schiek
Robuster Algorithmus zur Streuparameterbestimmung für systemfehlerkorrigierte Netzwerkanalysatoren
(1991)
Holger Heuermann
;
Burkhard Schiek
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