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Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten
(1995)
Holger Heuermann
Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen
(1993)
Holger Heuermann
;
Burkhard Schiek
Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren
(1994)
Holger Heuermann
;
Burkhard Schiek
Vergleich mehrerer Naeherungsverfahren zur Berechnung des Wellenwiderstandes von Mikrostreifenleitungen mit experimentellen Ergebnissen
(1996)
Holger Heuermann
;
W. Graf
Leerläufe als postulierte Kalibrierstandards fuer Messungen auf planaren Schaltungen
(1997)
Holger Heuermann
Auswertemethoden zur Praezisions-Entfernungsmessung mit FMCW-Systemen und deren Anwendung im Mikrowellenbereich
(1995)
Holger Heuermann
;
Reinhard Stolle
;
Burkhard Schiek
Robuster Algorithmus zur Streuparameterbestimmung für systemfehlerkorrigierte Netzwerkanalysatoren
(1991)
Holger Heuermann
;
Burkhard Schiek
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