Deutsch
Login
Open Access
Home
Search
Browse
Administration
FAQ
Refine
Author
H. Lüth (26)
(remove)
Year of publication
2005
(3)
2004
(1)
2002
(1)
2001
(1)
2000
(5)
1999
(1)
1998
(2)
1996
(3)
1995
(1)
1993
(1)
1989
(3)
1988
(1)
1987
(2)
1986
(1)
Has Fulltext
no (26)
(remove)
Institute
Fachbereich Energietechnik (26)
(remove)
26
search hits
1
to
10
Export
BibTeX
CSV
RIS
10
10
20
50
100
Sort by
Year
Year
Title
Title
Author
Author
Transport properties of gated resonant tunneling diodes in the single electron regime. Griebel, M.; Indlekofer, K. M.; Förster, A.; Lüth, H.
(1998)
Arnold Förster
;
M. Griebel
;
K. M. Indlekofer
;
H. Lüth
Single electron transport in resonant tunnelling diodes laterally confined by ion implantation. Griebel, M.; Indlekofer, K.M.; Förster, A.; Lüth, H.
(1999)
Arnold Förster
;
M. Griebel
;
K.M. Indlekofer
;
H. Lüth
Transport through a buried double barrier single electron transistor at low temperatures
(1998)
Arnold Förster
;
M. Griebel
;
M. Indlekofer
;
H. Lüth
Density-matrix description of a quantum dot system with variable lateral confinement in the single-electron tunneling regime. Indlekofer, K.M.; Förster, A.; Lüth, H.
(2002)
Arnold Förster
;
K.M. Indlekofer
;
H. Lüth
Ga segregation and the effect of Si and Ge interlayers at the GaAs(100)/AlAs heterostructure / R. Kohleick ; A. Förster ; H. Lüth
(1993)
Arnold Förster
;
R. Kohleick
;
H. Lüth
AlGaAs/GaAs avalanche detector array -1 GBit/s X-ray receiver for timing measurements / J. Lauter ; A. Förster ; H. Lüth ...
(1996)
Arnold Förster
;
J. Lauter
;
H. Lüth
AlGaAs/GaAs avalanche detector array-1 GBit/s X-ray receiver fortiming measurements / J. Lauter ; A. Förster ; H. Lüth ...
(1996)
Arnold Förster
;
J. Lauter
;
H. Lüth
AlGaAs/GaAs SAM-avalanche photodiode : an X-ray detector for low energy photons / J. Lauter ; D. Protic ; A. Förster ; H. Lüth
(1995)
Arnold Förster
;
J. Lauter
;
D. Protic
;
H. Lüth
The effect of inhomogeneous dopant profiles on the electron energy loss spectra of Si(100) /
(1988)
Arnold Förster
;
J. M. Layet
;
H. Lüth
Evaluation of dopant profiles and diffusion constants by means of electron energy loss spectroscopy
(1989)
Arnold Förster
;
J. M. Layet
;
H. Lüth
1
to
10