Refine
Year of publication
Institute
- Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik (1184) (remove)
Language
- English (718)
- German (465)
- Multiple languages (1)
Document Type
- Article (638)
- Conference Proceeding (302)
- Book (114)
- Part of a Book (64)
- Patent (17)
- Report (9)
- Other (8)
- Contribution to a Periodical (6)
- Course Material (6)
- Doctoral Thesis (6)
- Conference: Meeting Abstract (5)
- Working Paper (4)
- Bachelor Thesis (1)
- Conference Poster (1)
- Video (1)
- Review (1)
- Talk (1)
Keywords
- Multimediamarkt (7)
- Enterprise Architecture (5)
- MINLP (5)
- Engineering optimization (4)
- Gamification (4)
- Serious Game (4)
- Auslenkung (3)
- Digitale Transformation (3)
- Digitalisierung (3)
- Education (3)
Es wird von Gleichungen ausgegangen, mit denen die Modellkoeffizienten von Regelstrecken mit Ausgleich aus der gemessenen Sprungantwort ermittelt werden können. Die Übertragungsfunktion der Regelstrecke hat einen konstanten Zähler und ein Nennerpolynom. Unter der Annahme, daß die ideale und exakte Sprungantwort des Systems durch ein stochastisches Signal gestört wird, wird untersucht, wie die Fehler der ermittelten Modellkoeffizienten von Kennwerten des Störsignals und von der Meßzeit für die Sprungantwort abhängen. Durch eine Simulation auf dem Digitalrechner wurden die Ergebnisse kontrolliert. Es zeigt sich, daß durch eine Filterung der gestörten Sprungantwort über einen Tiefpaß keine Verbesserung der Analyseergebnisse erreicht werden kann, da das Identifizierungsverfahren eine glättende Eigenschaft hat.
Für viele Zwecke ist es nützlich, von einem technischen System ein mathematisches Modell zu haben. Für Systeme, die sich durch eine Verzögerung höherer Ordnung mit oder ohne Ausgleich beschreiben lassen, wird ein Identifizierungsverfahren vorgestellt, das aus gemessenen Zeitfunktionen die Bestimmung einer Übertragungsfunktion ermöglicht. Die Systeme werden dabei durch Testsignale erregt. Die Modellkoeffizienten werden dann mit Hilfe eines Integrationsverfahrens aus dem Testsignal und der Antwort des Systems auf dieses Testsignal bestimmt. Ein praktisches Beispiel zeigt die Leistungsfähigkeit des Verfahrens.
Advanced on-wafer multiport calibration methods for mono- and mixed-mode device characterization
(2004)
Novel balanced inductor for compact differential systems / Sadeghfam, Arash; Heuermann, Holger
(2004)
Modeller for Value Systems
(1997)