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Burkhard Schiek (4)
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1994 (4)
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Scattering Parameter Measurements of Microstrip Devices using the Double-LNN Calibration Technique
(1994)
Holger Heuermann
;
Burkhard Schiek
Results of Network Analyzer Measurements with Leakage Errors Corrected with the TMS-15-Term Procedure
(1994)
Holger Heuermann
;
Burkhard Schiek
Error Corrected Impedance Measurements with a Network Analyzer
(1994)
Holger Heuermann
;
Burkhard Schiek
Calibration of network analyser measurements with leakage errors
(1994)
Holger Heuermann
;
Burkhard Schiek
1
bis
4