Direct hysteresis measurements of single nanosized ferroelectric capacitors contacted with an atomic force microscope / Tiedke, S. ; Schmitz, T. ; Prume, K. ; Roelofs, A. ; Schneller, T. ; Kall, U. ; Waser, R. ; Ganpule, C. S. ; Nagarajan, V. ; Stanishevs
| Verfasserangaben: | Klaus Prume, S. Tiedke, T. Schmitz, A. Roelofs |
|---|---|
| ISBN: | 0003-6951 |
| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Applied Physics Letters. 79 (2001), H. 22 |
| Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Erscheinungsjahr: | 2001 |
| Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
| Erste Seite: | 3678 |
| Letzte Seite: | 3680 |
| Link: | http://dx.doi.org/10.1063/1.1421638 |
| Zugriffsart: | campus |
| Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
