In-situ compensation of the parasitic capacitance for nanoscale hysteresis measurements / Schmitz, T. ; Prume, K. ; Reichenberg, B. ; Roelofs, A. ; Waser, R. ; Tiedke, S.
Verfasserangaben: | Klaus Prume, B. Reichenberg, A. Roelofs, R. Waser |
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ISBN: | 0955-2219 |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Journal of the European Ceramic Society. 24 (2004), H. 6 |
Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Erscheinungsjahr: | 2004 |
Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
Erste Seite: | 1145 |
Letzte Seite: | 1147 |
Bemerkung: | Electroceramics VIII |
Link: | http://dx.doi.org/10.1016/S0955-2219(03)00583-1 |
Zugriffsart: | bezahl |
Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |