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Annealing characteristics of native defects in low-temperature-grown MBE GaAs / J. Darmo ; F. Dubecky ; P. Kordos ; A. Förster

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Verfasserangaben:Arnold Förster, J. Darmo, F. Dubecký, P. Kordos
ISBN:0-7803-3095-1
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Semiconducting and insulating materials 1996 : proceedings of the 9th Conference on Semiconducting and Insulating Materials (SIMC '9), April 29 - May 3, 1996, Toulouse, France / [IEEE]
Verlagsort:Piscataway, NJ [u.a.]
Dokumentart:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Erscheinungsjahr:1996
Datum der Publikation (Server):18.12.2012
Umfang:XVII, 379 S. : Ill., graph. Darst.
Erste Seite:67
Letzte Seite:ff.
Bemerkung:
2. ISBN: 0-7803-3179-6 ; Conference on Semiconducting and Insulating Materials <9, 1996, Toulouse> ; Institute of Electrical and Electronics Engineers ; IEEE Cat. No.96CH35881
Fachbereiche und Einrichtungen:FH Aachen / Fachbereich Energietechnik