Charakterisierung von kapazitiven EMISSensoren mittels Impedanzspektroskopie, Kapazitäts-Spannungs- und Konstant-Kapazitäts-Messung
| Verfasserangaben: | D.-T. Knobbe, Michael Josef SchöningORCiD, Arshak PoghossianORCiD, Y. Mourzina |
|---|---|
| ISBN: | 3-18-091829-2 |
| Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Sensoren und Messsysteme 2004 : Tagung Ludwigsburg, 15. und 16. März 2004 / VDI-VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik |
| Verlag: | VDI |
| Verlagsort: | Düsseldorf |
| Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Deutsch |
| Erscheinungsjahr: | 2004 |
| Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
| Umfang: | 922 S. : Ill., graph. Darst |
| Erste Seite: | 851 |
| Letzte Seite: | 854 |
| Bemerkung: | Auch erschienen als: VDI-Berichte ; 1829 |
| Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Medizintechnik und Technomathematik |
| FH Aachen / INB - Institut für Nano- und Biotechnologien |
