Critical dimensions for the formation of interfacial misfit dislocations of In0.6Ga0.4As islands on GaAs(001)
| Verfasserangaben: | K. Tillmann, Arnold Förster |
|---|---|
| ISBN: | 0040-6090 |
| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Thin Solid Films. 368 (2000), H. 1 |
| Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Erscheinungsjahr: | 2000 |
| Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
| Erste Seite: | 93 |
| Letzte Seite: | 104 |
| Link: | http://dx.doi.org/10.1016/S0040-6090(00)00858-0 |
| Zugriffsart: | campus |
| Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Energietechnik |
| FH Aachen / INB - Institut für Nano- und Biotechnologien |
