Metadaten| Verfasserangaben: | T. Walther, D. Gerthsen, Reinhard Carius, Arnold Förster |
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| ISBN: | 0-7503-0290-9 |
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| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Microscopy of semiconducting materials 1993 : proceedings of the Royal Microscopical Society Conference held at Oxford University, 5 - 8 April 1993 / ed. by A. G. Cullis ... - (Conference series / Institute of Physics ; 134) |
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| Verlag: | Institute of Physics |
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| Verlagsort: | Bristol [u.a.] |
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| Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
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| Sprache: | Englisch |
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| Erscheinungsjahr: | 1993 |
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| Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
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| Umfang: | XVIII, 788 S. : Ill., graph. Darst. |
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| Erste Seite: | 449 |
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| Letzte Seite: | ff. |
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| Bemerkung: | Royal Microscopical Society Conference on Microscopy of Semiconducting Materials <8, 1993, Oxford> ; MSM <8, 1993, Oxford> |
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| Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Energietechnik |
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