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Effect of interface roughness and scattering on the performance of AlAs/InGaAs resonant tunneling diodes

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Verfasserangaben:Arnold Förster, J. Lange, D. Gerthsen
ISBN:1071-1023
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures. 11 (1993), H. 4
Dokumentart:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Erscheinungsjahr:1993
Datum der Publikation (Server):18.12.2012
Erste Seite:1743
Letzte Seite:1747
Bemerkung:
ISSN der E-Ausg.: 0734-211X
Link:http://dx.doi.org/10.1116/1.586473
Zugriffsart:bezahl
Fachbereiche und Einrichtungen:FH Aachen / Fachbereich Energietechnik