Charakterisierung von kapazitiven EMISSensoren mittels Impedanzspektroskopie, Kapazitäts-Spannungs- und Konstant-Kapazitäts-Messung
Verfasserangaben: | D.-T. Knobbe, Michael Josef SchöningORCiD, Arshak PoghossianORCiD, Y. Mourzina |
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ISBN: | 3-18-091829-2 |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Sensoren und Messsysteme 2004 : Tagung Ludwigsburg, 15. und 16. März 2004 / VDI-VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik |
Verlag: | VDI |
Verlagsort: | Düsseldorf |
Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Deutsch |
Erscheinungsjahr: | 2004 |
Datum der Publikation (Server): | 18.12.2012 |
Umfang: | 922 S. : Ill., graph. Darst |
Erste Seite: | 851 |
Letzte Seite: | 854 |
Bemerkung: | Auch erschienen als: VDI-Berichte ; 1829 |
Fachbereiche und Einrichtungen: | FH Aachen / Fachbereich Medizintechnik und Technomathematik |
FH Aachen / INB - Institut für Nano- und Biotechnologien |