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Degradation of thin poly(lactic acid) films: characterization by capacitance-voltage, atomic force microscopy, scanning electron microscopy and contact-angle measurements

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Verfasserangaben:Sebastian Schusser, S. Menzel, Matthias Bäcker, Marcel Leinhos, Arshak PoghossianORCiD, P. Wagner, Michael Josef SchöningORCiD
ISSN:1873-3859 (E-Journal); 0013-4686 (Print)
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Electrochimica Acta
Verlag:Elsevier
Verlagsort:Amsterdam
Dokumentart:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Erscheinungsjahr:2013
Datum der Publikation (Server):26.08.2013
Jahrgang:Vol. 113
Erste Seite:779
Letzte Seite:784
Link:http://dx.doi.org/10.1016/j.electacta.2013.08.025
Zugriffsart:campus
Fachbereiche und Einrichtungen:FH Aachen / Fachbereich Medizintechnik und Technomathematik
FH Aachen / INB - Institut für Nano- und Biotechnologien
collections:Verlag / Elsevier