Deutsch
Login
Open Access
Home
Search
Browse
Administration
FAQ
Refine
Author
Arnold Förster (142)
(remove)
Year of publication
2013
(1)
2007
(1)
2006
(1)
2005
(5)
2004
(3)
2003
(3)
2002
(10)
2001
(4)
2000
(11)
1999
(13)
1998
(12)
1997
(16)
1996
(19)
1995
(14)
1994
(9)
1993
(8)
1992
(3)
1991
(1)
1989
(3)
1988
(2)
+ more
Language
English (142)
(remove)
Institute
Fachbereich Energietechnik (142)
(remove)
142
search hits
7
to
16
Export
BibTeX
CSV
RIS
10
10
20
50
100
Sort by
Year
Year
Title
Title
Author
Author
AlGaAs/GaAs SAM-avalanche photodiode : an X-ray detector for low energy photons / J. Lauter ; D. Protic ; A. Förster ; H. Lüth
(1995)
Arnold Förster
;
J. Lauter
;
D. Protic
;
H. Lüth
An InAlAs-InGaAs OPFET with responsivity above 200 A/W at 1.3-μm wavelength. Marso, M.; Gersdorf, P.; Fox, A.; Hodel, U.; Lambertini, R.; Kordos, P.
(1999)
Arnold Förster
;
M. Marso
;
P. Gersdorf
;
A. Fox
An optical correlator using a low-temperature-grown GaAs photoconductor / S. Verghese ; N. Zamdmer ; Qing Hu .... A. Förster
(1996)
Arnold Förster
;
S. Verghese
;
N. Zamdmer
;
Qing Hu
Annealing characteristics of native defects in low-temperature-grown MBE GaAs / J. Darmo ; F. Dubecky ; P. Kordos ; A. Förster
(1996)
Arnold Förster
;
J. Darmo
;
F. Dubecký
;
P. Kordos
Annealing effect on concentration of EL6-like deep-level state in low-temperature-grown molecular beam epitaxial GaAs. Darmo, J.; Dubecky, F.; Kordos, P.; Förster, A.
(1998)
Arnold Förster
;
J. Darmo
;
F. Dubecky
;
P. Kordos
Arsenic passivation of MBE grown GaAs(100): structural and electronic properties of the decapped surfaces / U. Resch ; N. Essera ; Y. S. Raptis ... A. Förster ...
(1992)
Arnold Förster
;
U. Resch
;
N. Essera
;
Y. S. Raptis
Arsenic passivation of MOMBE grown GaAs surfaces / B. -J. Schäfer ; A. Förster ; M. Londschien ...
(1988)
Arnold Förster
;
B.-J. Schäfer
;
M. Londschien
Atomic scale analysis of the indium distribution in InGaAs/GaAs (001) heterostructures: segregation, lateral indium redistribution and the effect of growth interruptions. Rosenauer, A. ; Oberst, W. ; Gerthsen, D. ; Förster, A.
(1999)
Arnold Förster
;
A. Rosenauer
;
W. Oberst
;
D. Gerthsen
Atomic scale strain measurements by the digital analysis of transmission electron microscopic lattice images / A. Rosenauer ; T. Remmele ; D. Gerthsen ... A. Förster
(1997)
Arnold Förster
;
A. Rosenauer
;
T. Remmele
Band offsets at heavily strained III - V interfaces / C. Ohler ; A. Förster ; J. Moers...
(1997)
Arnold Förster
;
C. Ohler
;
J. Moers
7
to
16